• الرئیسیة
  • البحث المتقدم
  • قائمة المکتبات
  • حول الموقع
  • اتصل بنا
  • نشأة
تعداد ۲ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۸۱ ثانیه یافت شد.

1. Microelectronic failure analysis: Instrumentation, science, materials and applications

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

المؤلف: prepared under the direction of the Electronic Device Failure Analysis Society Publications Committee

المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (طهران)

موضوع: Electronics--Materials--Testing--Handbooks, manuals, etc,Microelectronics--Materials--Testing--Handbooks, manuals, etc,Microelectronics--Materials--Defects--Handbooks, manuals, etc,Electronic apparatus and appliances--Testing--Handbooks, manuals, etc,Semiconductors--Defects--Handbooks, manuals, etc

رده :
{
1648
},
fe823984b80082dc2d17ebe2cd118be2

2. Microelectronic failure analysis : desk reference

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: ، Electronics-- Materials-- Testing-- Handbooks, manuals, etc,، Microelectronics-- Materials-- Testing-- Handbooks, manuals, etc,، Microelectronics-- Materials-- Defects-- Handbooks, manuals, etc,، Electronic apparatus and appliances-- Testing-- Handbooks, manuals, etc

رده :
TK
7871
.
M52
1993
  • »
  • 1
  • «

الاقتراح / اعلان الخلل

تحذیر! دقق في تسجیل المعلومات
ارسال عودة
تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال